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ATI将Mentor Graphics Modular TestKompress用于先进90纳米图形处理器生产测试

  明导国际 (Mentor Graphics) 日前宣布,领先业界的图形芯片厂商ATI Technologies已将Mentor Graphics TestKompress®嵌入式决定性测试工具 (EDT™) 引入其图形处理器的生产测试流程。这套功能模块层级的测试工具会利用Mentor的EDT测试方法增强大型复杂芯片测试过程的数据压缩效能和方便布局布线,进而协助ATI大幅减少测试时间和测试数据量。
  
  「透过Mentor Graphics的密切合作,我们不需要增加测试成本就能利用TestKompress彻底测试我们的新芯片。」ATI Technologies可测试设计 (DFT) 架构设计主管Michael Do表示,「Mentor Graphics不断提供能够增加产品价值的工具。」
  
  由于芯片日益复杂和工艺技术不断缩小,要在符合成本效益的情形下提供高测试质量已变得更困难。测试范围随着设计复杂性增加而持续扩大,纳米工艺更带来许多新挑战,它们都需要更多测试才能找出问题。Modular TestKompress工具提供一套功能模块层级的嵌入式压缩机制,它能大幅减少今日复杂设计所需的测试数据量,进而在不影响测试产出的情形下提供更完整的测试涵盖范围。Modular TestKompress为设计人员提供一套以功能模块为基础的流程,其中每个模块和相关的压缩逻辑电路都能单独实现与验证。这不但简化以功能模块为基础的大型器件设计流程,还能缩小连接压缩硬件所需的布线区域。
  
  「ATI身处复杂器件开发的最前端。透过两家公司的合作,Mentor Graphics修改其通过考验的TestKompress工具来产生一套新的生产测试方法以解决ATI的测试问题。」Mentor Graphics设计验证与测试部门副总裁暨总经理Robert Hum表示,「Modular TestKompress的成功实现证明就算面对最先进的器件和工艺技术,Mentor也有能力协助客户实现更高的测试质量和更低的测试成本。」
  
   TestKompress很容易整合到多数的扫描式设计流程,同时提供与Mentor Graphics领先业界的自动测试向量产生 (ATPG) 工具FastScan™相同的实速 (at-speed) 测试能力。速度相关的瑕疵是纳米工艺技术最常见的问题,TestKompress工具专利的压缩功能可大幅减少测试这类问题所需的测试数据量。
  
  关于Mentor Graphics可测试设计工具
  为支持今日系统单芯片和深亚微米设计,Mentor Graphics提供业界最完整的可测试设计解决方案,包括扫描、自动测试向量产生 (ATPG)、嵌入式决定性测试 (EDT)、先进内存测试、边界扫描、逻辑内建自我测试以及可测试设计相关流程的各种整合式解决方案。详细信息,请至以下网站查询:www.mentor.com/dft。