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Mentor Graphics TestKompress支持台积电Reference Flow 6.0设计参考流程

  先进工具帮助台积电改善量产测试质量
  
   Mentor Graphics日前宣布,台积电已经选用Mentor Graphics TestKompress®扫描测试工具加入该公司的Reference Flow 6.0设计参考流程,TestKompress可大幅改善米设计的量产测试质量,减少测试成本。除了TestKompress之外,Reference Flow 6.0还包含Fastscan™、MBISTArchitect™以及BSDArchitect™等多种由Mentor Graphics提供的可测试设计 (DFT) 工具套件。
  
   “Reference flow 6.0采用最新的可测试设计技术来满足纳米设计需求。”台积电设计服务营销部门资深总监Ed Wan表示,“Mentor Graphics TestKompress可以提升测试质量,减少测试数据量、测试时间和测试成本。”
  
   Mentor Graphics TestKompress嵌入式确定性测试工具 (EDT™)能将生产测试时间和数据量减少100倍以上,这能帮助使用者提高复杂器件的测试涵盖率和测试质量。通过强大的数据压缩能力,制造商可以执行更多测试而不会影响测试时间,使得测试成本维持在较低水平。这套工具还提供极佳的未知状态容忍能力 (x-state tolerance),工程师不必另外增加逻辑电路或受限于测试结构带来的严苛设计要求。除此之外,TestKompress很容易就能实现任何基于扫描的测试方法,其应用方式对于熟悉传统ATPG的工程师也非常简单。
  
  随着制程技术日益精密,与器件工作速度有关的瑕疵也会出现,TestKompress和FastScan都提供最先进的实速 (at-speed) 测试能力来侦测这方面的问题。除此之外,台积电还采用Mentor Graphics的MBISTArchitect和BSDArchitect等工具,以便为Reference Flow 6.0提供完整的可测试设计工具套件。MBISTArchitect可针对工作频率高达1 GHz的嵌入式存储器进行实速测试,BSDArchitect则为设计增加IEEE 1149.1边界扫描功能,使其也能支持在线测试 (in-circuit test)。
  
   “复杂纳米组件的量产制造有许多潜在困难,台积电则是克服这些艰巨挑战的业界领导厂商。”Mentor Graphics副总裁暨设计测试与验证部门总经理Robert Hum表示,“我们很高兴台积电将Mentor的可测试设计工具加入其Reference Flow 6.0设计参考流程,以便提供低成本的纳米器件生产测试,同时改善量产测试的质量。”
  
  关于Mentor Graphics可测试设计工具
  为支持今日系统级芯片和深亚微米设计,Mentor Graphics提供业界最完整的可测试设计解决方案,包括扫描测试结构插入、自动测试向量产生 (ATPG)、嵌入式确定性测试 (EDT)、先进存储器测试、边界扫描、逻辑内建自我测试以及可测试设计相关流程的各种整合式解决方案。详细信息,请至以下网站查询:www.mentor.com/dft。