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Mentor Graphics宣布FastScan和TestKompress测试设计工具增强自动化处理功能,取得最佳的测试覆盖成果

  俄勒冈州WILSONVILLE,2004年10月5日 – Mentor Graphics 公司 (纳斯达克:MENT) 今日宣布了其行业领先的自动测试向量生成工具(ATPG)、FastScanÔ以及它的嵌入式确定性测试工具TestKompressÒ新增加自动化处理功能——ATPG Expert。ATPG Expert功能部件能对设计进行自动分析,并智能化地使用ATPG工具(Fastscan和Testkompress)所提供的命令处理测试向量生成中的所有复杂性,如RAM的Shadow logic和总线冲突问题。ATPG Expert可以在测试覆盖率、测试向量数目以及运行时间方面获得最佳效果。
  
  随着设计工艺向纳米几何方向发展,选择最有效的ATPG 参数来获得理想的结果可以说是一项令人生畏的任务。ATPG Expert功能部件作为FastScan或TestKompress工具内的一个智能 “专家”来工作,以便对设计进行自动分析并作出决策来产生最佳效果。ATPG Expert对测试向量生成的复杂性进行智能化管理,例如:确定如何处理RAM阴影逻辑,确定要设置的sequential depth或abort limits,确定要采用的压缩类型、以及如何处理不同时钟域之间的交互作用以及总线冲突问题等。其结果是使得工程师只需要一条简单的命令就是可以获得更高的覆盖率、最小的测试向量数目以及最优化的ATPG运行时间。
  
   “纳米设计的趋势带来了许多新的复杂性和不确定因素。我们的目标是通过ATPG过程的进一步自动化增加确定性并简化获得最佳测试结果的过程,”Mentor Graphics公司设计验证与测试部总经理兼副总裁Robert Hum说,“我们将FastScan 工具中现有的功能全部纳入TestKompress工具中,用户因此可以轻松地采用这些工具并将这些工具整合到他们的设计流程中,从而获得全面的、可升级的测试解决方案。”
  
  关于FastScan和TestKompress
   FastScan和TestKompress工具是目前可以得到的最先进的ATPG工具。用户轻松地将其整合到任何设计流程中,可提供最高的测试覆盖率,同时显著地 减少了测试向量生成时间。这两种工具均提供了范围广泛的故障模型和测试向量类型,以便进行更加彻底的测试、并提供全面的设计规则检查以及针对高性能向量压缩的创新算法。基于ATPG方法,TestKompress工具的特点是显著的压缩性能,相比传统的ATPG工具如Fastscan,可减少多达100X的测试数据量,同时提高了测试质量和降低了测试成本。两种工具的目前版本中都有ATPG Expert功能部件(免费)。欲知更多的信息,请访问网站www.mentor.com/dft