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UMC公司为其130和90纳米参考流程选用Mentor Graphics公司FastScan ATPG工具

  Mentor Graphics公司(Nasdaq:MENT)今天宣布其业界领先的自动测试向量生成(ATPG)工具-- FastScanÔ已被UMC公司选中用于130和90纳米工艺参考流程。UMC公司选择FastScan的理由是其实现高测试覆盖的能力,也是因为它能够轻松集成进入任何标准设计流中。此外,由于FastScan已经在许多最大型集成电路公司得到广泛采用,UMC客户可能已经熟悉这种工具及其能力,并积累了丰富经验。
  
   UMC公司设计支持部总监Ken Liou说:“我们与Mentor Graphics公司密切协作,共同开发参考流程的ATPG部分。运用FastScan,我们能够实现出色的测试覆盖,确保为客户的设计项目提供高测试质量。”
  
   UMC数字参考流程提供由RTL到GDSII自上而下的经过验证的解决方案。这一全面流程的目标群体是那些采用UMC公司130和90纳米工艺设计单芯片系统的客户。该流程的设计也能够适应任何客户设计环境。Mentor在该流程ATPG部分的工作包括可测性设计(DFT)库转译和验证。
  
   Mentor Graphics公司设计验证和测试部副总裁兼总经理Robert Hum说:“随着顶级IC制造商采用FastScan,它必须提供最高性能、最大测试覆盖范围和最为宽广的可扩展能力,只有这样才能满足不断变化的质量和技术需要。随着工艺技术的演变发展,经过验证的解决方案必须能够应对随时出现的各种设计和测试问题。我们与客户以及UMC等晶圆代工合作伙伴密切合作,确保FastScan能够化解当前和未来的各种测试挑战。”
  
   FastScan简介
   Mentor Graphics公司FastScan是目前业界最先进的ATPG工具,它能够轻松集成进入任何标准设计流程之中,在提供最广泛测试覆盖范围的同时,显著缩短测试模式生成时间。FastScan为更为彻底的测试和全面的设计规则检查提供了广泛的错误模型和模式样式,同时为面向性能的模式压缩提供了创新算法。如需更多信息敬请访问www.mentor.com/dft。