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ARM携手明导 共同为ARM CPU定义测试流程

旧金山——周一(九月十九日)ARM控股有限公司和Mentor Graphics公司共同宣布,针对基于ARM处理器的设计的生产测试,他们已经为其开发了一套参考流程。

两家公司宣称,对于基于明导Tessent测试工具的ARM IP,该参考流程包含的文档、无缝接口和脚本,能够加快任一测试方案的开发。另外,该流程具有提高测试质量、降低测试成本和缩短测试设计的开发周期等特点。

据称,经过ARM(位于英国剑桥)和明导(位于美国俄勒冈州威尔逊维尔市)的协作,Tessent已经可以支持ARM MBIST的内核接口,从而为任一嵌入式内核提供一个或多个接口,并且在完全测试内核的任一内存同时,对内核的电源、性能或面积等方面具有最小影响。

另据悉,ARM-Mentor的测试流程可支持对于ARM内核、逻辑线路和客户芯片系统中的嵌入式内存的综合测试。该方案使用明导经过缩减的扫描式测试设计和自动测试模式生成工具,以及具有自行修复技术的内存内建自测(内建的自检)。据称,该测试流程定义了合并和验证所有测试压缩和内存内建自测IP以及生成所有必要的测试模式所必需的所有步骤。

明导硅测试产品部门的产品市场总监Steve Pateras在一次声明中称,我们和ARM的合作能够极大地帮助我们的共同客户,因为该方案可以在最短时间内帮助他们达成测试目标,从而加强了ARM IP的及时推向市场的优点。

此外,周一时,明导还发布了Tessent TestKompress和Tessent FastScan工具的新功能。这些新功能可为军事、医药、汽车和其他领域中对质量要求极高的应用提供更高的缺陷覆盖率和更低的每百万缺陷的级别。明导称,用户自定义的缺陷模型和一套新型的单元自检ATPG流程共同保证客户能够定位标准单元内部中隐晦的缺点和公开的缺陷,而这些并不能被标准的固定型或转换型缺陷模型发现。